用于檢查硅片的表面光潔度-日本horiba高光澤度檢查儀IG-410

發(fā)布時間：2021-01-15　點擊量：1760

用于檢查硅片的表面光潔度-日本horiba高光澤度檢查儀IG-410

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高光澤度光澤度檢查儀IG-410是一種方便使用的類型，可方便地進行現(xiàn)場工作，并且只需將與顯示單元分開的測量單元應用于被攝體即可進行測量。使用近紅外線作為光源，并測量了1000的光澤度（鏡面反射率100％）。

無需預熱。對于需要高表面光澤度的產品（例如用于汽車前燈的照明反光器，用于復印機的反光器和硅片）的質量控制而言，它是理想的選擇。

甚至在金屬等高光澤區(qū)域
也可以量化“模糊度” IG-410可以測量金屬等高光澤區(qū)域，是光澤度檢查儀IG系列的新產品。測量范圍是0到100，是傳統(tǒng)型號的10倍。也可以測量鏡面樣品。
緊湊輕巧的設計，易于現(xiàn)場測量
重量僅為350g，易于攜帶。由于是一鍵式操作，因此可以將其帶到生產現(xiàn)場以方便測量。
由于將LED用作光源，因此無需擔心光源的壽命。
可以通過
在2個范圍之間切換來測量低光澤度，可以在0到100和0到100的2個范圍之間切換。每個范圍都帶有自己的校準板。
IG-410不僅可以測量高光澤度金屬，還可以測量低光澤度區(qū)域，例如涂在金屬板上的樣品。

*由于光澤度是通過光的反射來測量的，因此測量點必須平坦。

光學系統(tǒng)	入射角60°-接收角60°
測量面積	3 x 6毫米橢圓
光源	LED（波長890nm）
受光部	SPD（硅光電二極管）
測量范圍（顯示分辨率）	100范圍： 0.00至10.0（顯示分辨率0.1）1000范圍：0至100（顯示分辨率1）
重復性	滿量程的±1％
電源供應	AA干電池x 4
電池壽命	200小時以上（使用堿性干電池）
工作溫度極限	10-40℃
尺寸	機身：75W x 34D x 140H mm 傳感器：30W x 45D x 88H mm
大眾	約350g（帶內置電池）
其他功能	自動校準，自動關機范圍切換顯示（100/1000）超范圍顯示，電池電量顯示測量值保持校準值設置
配件	用于100和1000量程的校準標準板